秋霞午夜影院国产毛片,国产一级淫片免费播放,国产欧美日韩不卡在线播放在线,3a无码在线观看,午夜精品无码专区,国产亚洲精品va在线,a级午夜毛片免费一区二区

您好,歡迎來(lái)到一覽文庫(kù)!找行業(yè)資料上一覽文庫(kù)!
一覽( 微信公眾號(hào):yilanshequ )

一覽( 微信公眾號(hào):yilanshequ )

打開(kāi)微信掃一掃,即可直接關(guān)注

收藏我們 | 登錄 | 注冊(cè)
當(dāng)前位置:一覽文庫(kù)> 電氣電力 > 電池 > 測(cè)試工程師 > 晶體硅太陽(yáng)電池及組件EL測(cè)試介紹
晶體硅太陽(yáng)電池及組件EL測(cè)試介紹

晶體硅太陽(yáng)電池及組件EL測(cè)試介紹

一覽通:免費(fèi)獲取520份薪酬績(jī)效文檔

級(jí)別:| 積分:0 分 | 瀏覽:81104 | 大。14.00KB | 下載:4493 次 | 上傳:2013-09-04

簡(jiǎn)介:

本文基于電致發(fā)光(Electroluminescence,EL)的理論,介紹了利用近紅外檢測(cè)的方法,檢測(cè)出了晶體硅太陽(yáng)電池及組件中常見(jiàn)的隱性缺陷。這些缺陷包括:硅材料缺陷、擴(kuò)散缺陷、印刷缺陷、燒結(jié)缺陷以及組件封裝過(guò)程中的裂紋等,并簡(jiǎn)要分析了造成這些缺陷的原因。

[展開(kāi)]
     

猜你喜歡

收藏 下載此文檔 所需積分:0分